Yaprak alanı indeksinin belirlenmesi yaprakların karbon alışverişi, tutulan ve geçirilen ışık miktarının belirlenmesi için önemli bir parametredir. Bakla (Vicia faba L.) için basit ve hızlı bir yaprak alanı tahmin modeli, yaprakçık uzunluğu (L) ve yaprakçık eni (W) kullanılarak geliştirildi. Geliştirilen yaprak alanı tahmin modeli LA= =-1,6923 + (L* 0,0161) + (W*0,0929) + (0,0062*L*W) şeklindedir. Bu modelde LA yaprak alanını (cm), L yaprakçık uzunluğunu (cm) ve W yaprakçık enini (cm) göstermektedir. Tahmin edilen yaprak alanı ile ölçülen yaprak alanını karşılaştırmak amacıyla standart bir yöntem (Model MK2, Eijkelkamp Inc., Giesbeek, The Netherlands) 3050C) kullanıldı. 26 bakla genotipine ait veriler kullanılarak elde edilen regresyon analizi sonucunda, yaprak alanındaki varyasyondan sorumlu parametreler %97,59 olan belirleme katsayısını (R2) ortaya çıkarmıştır. Ölçülen ve tahmin edilen yaprak alanları arasındaki önemli olmayan farklılıklar, bu modelin pahalı yaprak alanı cihazlarına gereksinim duymadan kullanılabileceğini göstermiştir
Determination of leaf area index is an important parameter for assessing carbon exchange and light interception and transmission from the leaf. A simple and quick leaf area estimation model for faba bean (Vicia faba L.) was developed by using the leaflet length (L) and width (W). The proposed leaf area (LA) estimation model is LA= -1,6923 + (L*0,0161) + (W*0,0929) + (0,0062*L*W), where LA is leaf area (cm2), L is leaflet length (cm), W is the leaflet width (cm). A standard method (Model MK2, Eijkelkamp Inc., Giesbeek, The Netherlands) 3050C) was used to compare the estimated leaf area with the actual measured leaf area. As a result of regression analysis, performed with 26 faba bean genotypes, parameters responsible for the variation in leaf area values produced the determination coefficient (R2) of 97,59%. None significant differences between observed and predicted LA showed that the suggested model can be used for faba bean regardless of the expensive instruments
