Modelling of The Junction Interface By Impedance Spectroscopic Estimation


kocakır b., BAYHAN H., ÖZDEN Ş., ALTINAY Y., karaman e., bayhan m., ...Daha Fazla

2nd International Semiconductor Science and Technology Conference, 11 - 13 Mayıs 2015

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Hatay Mustafa Kemal Üniversitesi Adresli: Evet